电子产品的可靠性试验指标

电子产品的可靠性试验指标

    大量统计资料证明：电子设备产品的失效分布一般服从指数分布。从电子设备产品及许多电子元器件的失效机理来看，随着时间的足够长，失效率趋近于一个稳定值，其基本特征可以用指数函数的曲线相比拟， 即服从指数分布，因此电子设备产品的可靠性指标有：可靠度 R(t)：

累积失效概率F(t)：失效密度函数f(t)：平均故障间隔时间MTBF:   

   由上可看出在指数分布时产品的可靠性指标表示式比较简单，并且失效率λ是一个常数。在进行电子设备产品可靠性分析时，只要得到λ的数值，其它指标就可以直接算出来。